原子力顯微鏡（Atomic force microscopy）是一種以物理學原理為基礎，通過掃描探針與樣品表 
面原子相互作用而成像的新型表面分析儀器。一般原子力顯微鏡利用探針對樣品掃描，探針固定在對

探針與樣品表面作用力極敏感的微懸臂上。懸臂受力偏折會引起由激光源發出的激光束經懸臂反射后

發生位移。檢測器接受反射光，最后接受信號經過計算機系統采集、處理、形成樣品表面形貌圖像。
計算機全數字化控制，操作簡捷直觀。

步進馬達自動進行針尖－－樣品逼近，保證實驗圓滿成功。

深度陡度測量，三維顯示。

納米材料粗糙度測量、顆粒徑度測量及分布統計。

Ｘ、Ｙ二維樣品移動平臺，快速搜索樣品區域．

標準RS232串行接口,無需任何計算機卡

樣品觀測范圍從0.001um-20000um。

掃描速度達40000點/秒

可選配納米刻蝕功能模塊。