A1130723系列高倍透反射硅片檢測顯微鏡適用于對透明與不透明，或者半透明的物體進行顯微觀察。儀器配置落射照明與透

射照明系統 、長距平場消色差物鏡、大視野目鏡，圖像清晰、襯度好，同時還配有內置偏光觀察裝置。本儀器可用于鑒別

和分析各種金屬和合金材料及非金屬物質的組織結構，廣泛應用于電子、化工和儀器儀表行業觀察不透明的物質。如金屬太

陽能板、多晶硅、單晶硅、太陽能硅片檢測、集成電路、電子芯片、電路板、液晶板、鍍涂層，薄膜、粉末及其它非金屬材

料，對一些表面狀況進行研究分析的工作等。本儀器系大專院校，科研機構，工廠等的理想儀器。

系統組成簡介：

A1130723/A1130724電腦（數碼）系列高倍硅片檢測顯微鏡成像系統是通過光電轉換與計算機，數碼相機以及電視機等設備

結合在一起，不僅可以在目鏡上觀察，還能在顯示屏幕上觀察實時動態圖像，還可在計算機，數碼相機上將所需要的圖片進

行編輯、保存和打印。

性能特點：

配置大視野目鏡和長距平場消色差物鏡，視場大而清晰。

粗微動同軸調焦機構，粗動松緊可調，微動格值:2μm。

帶限位鎖緊裝置

配置落射與透射兩套照明系統，能分別對不透明物體或透明物體進行顯微觀察

三目鏡筒,可自由切換正常觀察，可進行100%透光攝影