A1130731系列正置透反射高倍半導體檢測顯微鏡適用于對透明與不透明，或者半透明的物體進行顯微觀察。儀器配置落射照

明與透射照明系統 、長距平場消色差物鏡、大視野目鏡，圖像清晰、襯度好，同時還配有內置偏光觀察裝置。本儀器可用

于鑒別和分析各種金屬和合金材料及非金屬物質的組織結構，廣泛應用于電子，冶金、化工和儀器儀表行業觀察不透明的物

質。如金屬太陽能板、多晶硅片、封裝測試、集成電路、電子芯片、電路板、液晶板、鍍涂層，薄膜、粉末及其它非金屬材

料，對一些表面狀況進行研究分析的工作等。本儀器系大專院校，科研機構，工廠等的理想儀器。

成像系統組成介紹：

A1130731/A1130732電腦型/數碼型高倍半導體檢測顯微鏡可通過光電轉換與計算機，數碼相機以及電視機等設備結合在一

起，不僅可以在目鏡上觀察，還能在顯示屏幕上觀察實時動態圖像，還可在計算機，數碼相機上將所需要的圖片進行編輯、

保存和打印。

性能特點：

配置大視野目鏡和長距平場消色差物鏡，視場大而清晰。

粗微動同軸調焦機構，粗動松緊可調，帶限位鎖緊裝置，微動格值:2μm。

配置落射與透射兩套照明系統，能分別對不透明物體或透明物體進行顯微觀察

三目鏡筒,可自由切換正常觀察，可進行100%透光攝影

防霉：特有的防霉系統